| Pocket Guide 1 - Eignungsnachweis von Messsystemen (Taschenbuch) von Edgar Dietrich, Alfred Schulze, Winfried Ehret
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| Kurzbeschreibung: | | Das Wichtigste zum Eignungsnachweis von Meßverfahren und zur Abnahme von Fertigungseinrichtungen. Die Beurteilung und Abnahme von Meßsystemen, Maschinen und Prozessen basiert heute auf statistischen Verfahren. Die hierbei üblichen Vorgehensweisen sind in unterschiedlichen Verbands- und Firmenrichtlinien enthalten. Damit haben Hersteller von Meßsystemen, Maschinen sowie Fertigungseinrichtungen und Zulieferer das Problem, unterschiedliche Forderungen ihrer Kunden befriedigen zu müssen. Die vorliegenden Bände beschreiben Schritt für Schritt die Vorgehensweise bei der Abnahme und Beurteilung von Meßsystemen sowie von Maschinen und Fertigungseinrichtungen. Durch die kompakte Informationsaufbereitung und das handliche Format werden die Bände zu einem echten Hilfsmittel, das der Anwender ständig zur Hand hat. Die Neufassung der Richtlinien garantieren aktuellste Verfahren und Vorgehensweisen. Die Autoren sind Geschäftsführer der Firma Q-DAS, die seit Jahren eine international anerkannte Software für statistische Qualitätssicherung entwickelt und vertreibt. Von Ihnen sind bereits e inige sehr erfolgreiche Bücher in diesem Themenumfeld erschienen.
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| Siehe auch folgende Artikel: |
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|  | | Pocket Guide - Abnahme von Fertigungseinrichtungen von Edgar Dietrich Prüfprozesseignung von Edgar Dietrich Statistische Verfahren zur Maschinen- und Prozessqualifikation von Edgar Dietrich ISO/TS 16949:2002 umsetzen (Pocket Power) von Robert Frank
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| Mehr zu Messtechnik, Messen, Steuern & Regeln, Meßtechnik, Business & Karriere
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